VectorStar 家族：射頻、微波、毫米波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

Name: VectorStar 家族：射頻、微波、毫米波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀MS4640B Series
Availability: InStock

簡要描述：

更新時間：2025-07-08

產(chǎn)品型號： MS4640B Series

所屬分類：安立ANRITSU

訪問量：792

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詳細(xì)說明：

Overview

VectorStar™ 系列是 Anritsu 的高級矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀系列，在現(xiàn)代化工作平臺上提供的整體性能。 MS4640B VectorStar 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在單臺儀器中提供 70 kHz 到 70 GHz 的最寬頻率覆蓋范圍。 70 GHz 的頻率固然令人贊嘆，但低頻端額外帶來的二十倍頻程更令人激動。

IMDView™ 提供了靈活的菜單欄，修改關(guān)鍵的IMD參數(shù)時，可顯示實時測量。內(nèi)部組合選件提供有源器件的單個連接測試，可在S參數(shù)和IMD測量之間自動切換，而無需重新連接DUT。

PulseView™ 脈沖測量功能, 結(jié)合創(chuàng)新式 IF 數(shù)字化選項，能夠提供業(yè)界的 2.5 ns 脈沖分辨率和 100 dB 動態(tài)范圍，對于不同的占空比，不需要妥協(xié)或平衡性能使用。 PulseView 能夠提供脈沖測量的實時顯示，且能夠同時動態(tài)地修改脈沖參數(shù),以及時的驗證設(shè)計指標(biāo)。

DifferentialView™ 差分選件, 結(jié)合內(nèi)部雙源選項，能夠提供差分設(shè)備、器件和組件的實時顯示分析，且同時能夠自動地修改內(nèi)部雙源的相位和幅度關(guān)系。

噪音系數(shù)測量選項以冷源技術(shù)為基礎(chǔ)，能夠提高噪音系數(shù)測量精度。 VectorStar 是僅有的一款能夠測量 70 kHz 到 125 GHz 噪音系數(shù)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，且配有 30 GHz 到 125 GHz 測量所用的優(yōu)化噪音接收器。 Additionally, VectorStar is the only VNA that offers a Differential Noise Figure option for characterizing the noise figure of differential devices.

在寬帶應(yīng)用中，ME7838 系列通過一個同軸測試端口就能提供跨距為 70 kHz 到 110 GHz，125 GHz 和 145 GHz 的性能和頻率覆蓋范圍。 Anritsu 所開發(fā)的非線性傳輸線技術(shù)的 mmWave 模塊，采用緊湊型設(shè)計，且同時能夠提供高達(dá) 145 GHz 高性能。

Anritsu MS4640B 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了更高水平的性能，能夠幫助器件建模工程師實現(xiàn)精確可靠的器件建模；幫助 R&D 工程師盡量擴大其產(chǎn)品設(shè)計動態(tài)范圍，以研發(fā)出的設(shè)備；幫助制造工程師在保證精準(zhǔn)度的情況下地提高其生產(chǎn)測試效率。標(biāo)配的 3 年保修，再加上響應(yīng)迅速的銷售支持隊伍，MS4640B 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀定會成為工程師的明智選擇。

業(yè)界最寬的頻率跨度:單臺儀器的單一同軸測試端口可覆蓋 70 kHz ~ 70 GHz頻率范圍，寬帶系統(tǒng)配置頻率覆蓋 70 kHz ~ 145 GHz。可擴展至 1.1 THz

IMDView™ 軟件加上內(nèi)部組合選件可實現(xiàn)在單個連接中從S參數(shù)切換到IMD測量的能力

性能的脈沖測量 —PulseView™ 提供 2.5 ns 脈沖分辨率和 100 dB 動態(tài)范圍

4 端口單端或平衡測量，使用 DifferentialView™ 差分分析功能

內(nèi)部基于跟蹤的眼圖選件提供了顯示時域、S參數(shù)和眼圖的功能，能夠主動進行掃描更新

的動態(tài)范圍 - 達(dá) 142 dB

高輸出功率 - 達(dá) +14 dBm

測試端口性能 - 方向性高達(dá) 50 dB

時域分析

快速精確的光電測量，從 70 kHz 到 70 GHz 和 110 GHz，1310和1550 nm波長，使用 MN4765B O/E 校準(zhǔn)模塊。

VectorStar Users Site

The VectorStar Users Site is a location where you can obtain Software, O/S Patches, and needed Utilities for your VectorStar instruments.

The following are various published works that have utilized the VectorStar vector network analyzer to conduct their measurements. These papers are the property of their authors who have given Anritsu permission to post these.

Extraordinary Permittivity Characterization of 4H SiC at Millimeter-wave Frequencies
Lei Li, Mohammad Javad Asadi, School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University Steve Reyes, Anritsu Company Patrick Fay, Department of Electrical Engineering, The University of Notre Dame James C. M. Hwang, School of Electrical and Computer Engineering, Cornell University And Department of Materials Science and Engineering, Cornell University. 22 June 2023

Calibration, Repeatability and Related Characteristics of On-wafer, Broadbａnd 70kHz-220 GHz Single-Sweep Measurements
Andrej Rumiantsev, MPI Corporation Jon Martens, Steve Reyes, Anritsu Company. 02 Nov 2020

Radio-Frequency Characteristics of Ge-Doped Vanadium Dioxide Thin Films with Increased Transition Temperature
Muller, Anrei A. et al; ACS Applied Electronic Materials. 16 Apr 2020

3D Smith charts scattering parameters frequency-dependent orientation analysis and complex-scalar multi-parameter characterization applied to Peano reconfigurable vanadium dioxide inductors
Mueller, Andrei A. et al; Scientific Reports. 04 Dec 2019

A novel reconfigurable CMOS compatible Ka bａnd bandstop structure using split-ring resonators and Vadandium Dioxide (VO2) phase change switches
Muller, Anrei A. et al; Infoscience EPFL scientific publications. 22 Aug 2019

Anritsu has partnered with the following industry-leading companies to provide a variety of proven material measurement capabilities that are compatible with the VectorStar and ShockLine vector network analyzer families.

Material Measurements

	Compass Technology Choose from off-the-shelf or custom-designed RF material measurement systems able to measure material properties from 100 MHz to 90 GHz. These solutions include: focused beam, resonant cavity, waveguides, spot probes, free space measurement systems, and more. Anritsu and Compass Technology Group Material Measurements Solutions Compass Technology Group VectorStar Integration [video]
	Keycom Technologies Select from a variety of material measurement solutions that leverage various methods including: resonator, frequency change, probe type, co-axial tube and waveguide type S-parameter, free space, capacitance, epsilometery, and more. Anritsu and Keycom Material Measurement Solution
	SWISSto12 Providing hardware and software technology capable of measuring: solid samples; soft sample and foam; liquid samples and powder; thin films; dielectric coatings and multilayer materials; alumina plate; and more. Anritsu and SWISSto12 Material Measurement Solution

選件

主要配置項：

MS4642B	VNA，10 MHz ~ 20 GHz，雙端口，K型（陽頭）
MS4644B	VNA，10 MHz ~ 40 GHz，雙端口，K型（陽頭）
MS4647B	VNA，10 MHz ~ 70 GHz，雙端口，V型（陽頭）
選件 001	機架固定件
選件 002	具備高級功能的時域分析選件
選件 007	接收器配置測量選件，具備多源控制功能，能夠?qū)︻l率轉(zhuǎn)換器件測量
選件 031	第二源
選件 032	內(nèi)部組合器
選件 035	IF 數(shù)字化儀
選件 036	擴展內(nèi)存 (必須與選件35一同購買)
選件 041	噪音系數(shù)
選件 042	脈沖測量
選件 043	差分測量
選件 044	IMDView™
選件 046	快速連續(xù)波
選件 047	眼圖
選件 048	Differential Noise Figure
選件 053	External ALC leveling
選件 05x	直接訪問環(huán)路，能夠整體提高測量的靈活性
選件 06x	有源測量套件, 包含 2 只或 4 只衰減器
選件 070	70 kHz 低端頻率擴展，提供的低頻頻率覆蓋范圍
選件 08x	寬帶/毫米波接口
MN469xC	4 端口測量組件，K 和 V 型 40 MHz ~ 70 GHz 多端口解決方案
MN4765B	Optical VNA measurements O/E Calibration Module. Options available for 40, 70 GHz and 110 GHz, at 850, 1060, 1310, and 1550 nm wavelengths

軟件

AWR 與 Anritsu VectorStar連接 AWR Microwave Office Connected - View Full Size

Anritsu 推出的 VectorStar 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 內(nèi)置 NI AWR Design Environment™ 軟件，將設(shè)計與測量功能結(jié)合，使其成為該儀器的一項標(biāo)準(zhǔn)功能，同時可將其作為桌面上的一款獨立應(yīng)用程序。